靜電衰減測試儀配置的磁吸棒用于薄膜和布匹材料的測試；金屬夾具可以測試較厚的塊狀物、發(fā)泡物或其他形狀和質(zhì)地的材料。選配IC管型夾具可以無損測試IC芯片包裝管；選配806B無損測試電極可以直接放置在試樣上，還可以測試粉體和液體靜電衰減時間。配套法拉第測試籠提供一個屏蔽空間，試樣放置在法拉第籠內(nèi)進(jìn)行測試，法拉第籠通過配套連接線連接主機(jī)。法拉第籠具有互鎖裝置，打開法拉第籠時，高壓電源輸出被切斷。驗證模塊提供一個標(biāo)準(zhǔn)的電阻，電容直接采取系統(tǒng)電容。通過測試STM-2標(biāo)準(zhǔn)模塊可以驗證是否正常。位于法拉第籠內(nèi)的靜電壓探測頭可以卸下，放置在806B無損電極上后，可以直接測試粉體、液體和固體試樣。

　　靜電衰減測試儀是測試各種素材的靜電擴(kuò)散性的靜電衰減測試儀器，試樣由于受到光暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射而帶電，空氣離子照射停止后，通過測定器測出電荷的衰減曲線，然后由分析儀自動計算出電壓衰減的半衰期。

　　靜電分析儀V2是一臺解析運(yùn)算器，通過靜電測試儀獲取靜電衰減曲線，自動計算出電壓衰減的半衰期，采用單鍵式操作，自動測量素材的靜電衰減性。連接個人電腦后可以實現(xiàn)如下功能：

　?、偎p率（半衰期通常設(shè)定50%）的設(shè)定：2~100%；

　?、跍y試數(shù)據(jù)的電腦數(shù)據(jù)保存；

　?、蹨貪穸葦?shù)據(jù)自動保存至文件夾；

　?、茈妷鹤鴺?biāo)時間坐標(biāo)都可以隨意放大或縮小。

　　靜電衰減測試儀適用于測量膠卷、薄板、絲線、布料、地毯、玻璃等所有薄片狀試樣。